ROHS检测仪EDX1800B操作:
打开软件:打开电脑后开启仪器电源,双击桌面图标 以开启程序 ,程序会提示登录,
选择相应的操作员并输入密码登录;
预热:在X光管设置对话框中勾选‘打开高压电源’按钮”及“慢速升管压、管流”,然后单击 确定,待管压管流升至设定值时OK,将仪器预热30分钟;
银校片微调:使用银校片对仪器进行校准,打开仪器上盖放入银校片,然后点击‘微调按钮进行校准,待调试OK后会弹出对话框点击确定;
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪,其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF),波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等,而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件,相对简单。
ROHS检测仪分辨率从低到高探测器是NaI晶体闪烁计数器,充气比例计数器(He,Ne,Ar,Kr,Xe等),HgI2晶体探测器,半导体冷却Si PIN探测器,高纯硅晶体探测器,高纯锗晶体探测器,电冷或液氮冷却Si(Li)锂漂移。硅晶体探测器,Ge(Li)锂漂移锗探测器等
目前常用的有电冷或液氮冷却Si(Li)锂漂移硅晶体探测器,Si PIN探测器,高纯硅晶体探测器。探测器的性能主要体现在荧光检测的检测限,分辨率和能量范围。因此,如果您希望仪器的检测限良好,您必须了解。 低分辨率探测器的探测元件效果较差,难以探测被测物质中的微量元素。分辨率一般为700-1100eV。通常,可以用来测没有干扰的含量比较高的元素。
ROHS检测仪分析原理
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪,其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF),波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等,而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件,相对简单。
波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=kE
式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
江苏天瑞仪器股份有限公司是生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。