X射线荧光镀层分析仪THICK800A

X射线荧光镀层分析仪hick800a是天瑞公司多年研发的款电镀工业用rel="nofollow" 仪器,它可以全自动软件操作,可以多点测试,可以软件控制仪器的测点,也可以移动平台。本仪器功能强大,配上门为其开发的软件,在镀层业中可谓大展拳脚,产品在高压开关,表面处理,电子连接器,精密五金等行业得到了广泛的应用和认可。工作特性。萤光镀膜分析仪能满足各种厚度样品和不规则表面样品的检测要求。直径为0.1mm的小孔准直仪能够满足微小测试点的要求。高度在0.005毫米以下的移动平台定位试验,重复定位试验。利用高度定位激光,可以对测试高度进行自动定位。用定位激光器定位光斑,确保测试点与光斑致。滑鼠控制移动平台,滑鼠点击的位置即为被测点。高分辨探针使分析结果更。光线屏蔽效果好;
OES8000.png高灵敏度试验传感器保护装置。技术性指标模型:Thick800A。从硫(S)到铀(U)都有元素分析。可同时分析30多种元素,镀有五层。涂层厚度通常在50微米以内(每种材料各不相同)有多种可选的分析与识别模式。互不相关的基体效应修正模型多元非线性回收器。该温度范围为15~30℃。电力供应:交流220V±5V,建议配有交流净化稳定电源。外形尺寸:576(W)×495(D)×545(H)mm。样箱尺寸:500(W)×350(D)×140(H)毫米。体重:90千克。标准化配置开放的试样室。高二维移动采样平台,探测器和X光管上下移动实现三维移动。双重激光定位设备。萤光镀膜分析器铅玻璃屏蔽罩。西-潘探测器讯号探测电子电路高、低压电源X-光管高感应器防护传感器电脑和喷墨打印机。适用范围。检验金、铂、银等贵金属和各种饰的含量。测量金属镀层厚度,测定镀液及镀层含量。thick800a型X射线镀膜分析仪主要应用于贵金属及珠宝加工行业、银行、珠宝销售及检测机构、电镀行业。