镀层测厚仪THICK800A
荧光镀层测厚仪THICK800A工厂绩效优势能满足不同厚度样品及不规则表面样品的检测要求。直径小于0.1mm的小孔准直仪可以满足对微小测试点的要求。高度在0.005毫米以下的移动平台定位试验，重复定位试验。迅速，无损伤分析。成分分析多可包含25种元素。可以对5层同时进行分析。以基本参数法为基础的镀层成分分析方法。只需要一根USB线就可以连接到电脑。快速面板控制按钮。占地面积小，设计轻巧。技术性指标在硫(S)和铀(U)之间的任何金属镀层中进行元素分析。同时分析5个镀层。厚度为0.005μm。
测定含量通常在2ppm至99.9%之间涂层厚度通常在50微米以内(每种材料各不相同)有多种可选的分析与识别模式。互不相关的基体效应修正模型多元非线性回收器。较长时间稳定工作。作业环境该温度范围为15~30℃。电力供应：交流220V±5V，建议配有交流净化稳定电源。仪表尺寸：576(W)x495(D)x545(H)mm。体重：90千克。介绍了金属涂层测厚仪的产品概况。速度快：1分钟即可测得样品镀层厚度，达到测量要求。便捷性：Xrel="nofollow" 荧光光谱仪部分型号采用了电制冷半导体探测器，能量分辨率优于135eV，测试性能好。且无需液氮制冷，无需液氮定期补充，操作使用更加方便，且运行成本低于同类产品。
无损伤：试验和试验后样品均无变化。可视化：实时图谱，能直观显示元素的含量。检测范围广泛：X荧光光谱仪，是一种不依赖于样品化学结合状态的物理分析方法。对于具有相同化学性质的元素，也可进行分析，抽真空可检测其从Na到U的变化。可信度高：测试过程无人为因素干扰，rel="nofollow" 仪器本身的分析、重复性和稳定性都很高。本测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便，功能强大，能对仪器进行状态监测，设定仪器参数，具有多种的分析方法，而且曲线制作方法灵活多样，便于满足不同客户不同样品的测试需要。性能价格比：相对于化学分析仪器，X荧光光谱仪在整体使用成本上具有优势，能被更多的企业和厂家接受。简单易行：对人员技术要求不高，操作简便，易于维护。商品检验实例镀镍器是一种较为常见的电镀装置，其镍镀层既能保护铜基体，又能防止氧化。在此，我们以一个测试客户的铜镀镍样品为例，来说明本仪器的测试效果。下面用Thick800A仪器对铜镀镍样品进行了Ni层厚度的实际测试，得到了7次的标准偏差和相对标准偏差。并且可以进行样品的定位测试，其测试位置如图所示。作为一家集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供于一体的综合仪器供应商，天瑞仪器始终严格遵循“360°服务”的客户服务理念，以提高客户满意度为根本目标，从服务力量、服务流程