天瑞电镀层测厚仪Thick800A在外形、XY轴移动平台、rel="nofollow" 仪器防护罩、摄像头清晰度、软件以及特定行业应用（如NiP-Fe，Ni-Cu-Ni-Fe等）等方面j进行升，聚焦效果好，XY轴平台快速定位样品，噪音低，快速测试的荧光镀层测厚仪。

 电镀层测厚仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；软件可分析5层25种元素镀层；通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的分析；内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。性能特点X射线膜厚仪THICK800A满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm电镀层测厚仪THICK800A采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护

技术参数?型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）X射线膜厚仪任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序温度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg应用域镀Ni、镀Cr、镀Ni-W、Ni-Co、NiP合金镀Sn、In、Sn-In合金镀Ag、光亮Ni等镀黑Ni、镀黑Cr等镀Au、Ag、Sn、Cu等镀Ni-Fe合金、Ni-Co合金等镀Cr、镀Pt-Rh合金镀Zn、Sn-Pb合金等 电镀层测厚仪THICK800A对不但可以检测电镀层厚度对，电镀液含量成分也可分析；(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测，检测环境里的重金属是否超标。同时具有以下特点快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量要求。方便：Xrel="nofollow" 荧光光谱仪部分机型采用进口上电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试更高。操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。无损：测试后，样品无任何形式的变化。直观：实时谱图，可直观显示元素含量。测试范围广：电镀层测厚仪THICK800A，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析、重复性与稳定性很高。满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。性价比高：相比化学分析类仪器，电镀层测厚仪THICK800A在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。