镀层测厚仪EDX600PLUS采用美国原装电致冷高性能SDD探测器,分辨率高,探测范围宽,涵盖RoHS、卤素、镀层、合金(含贵金属)及各种常规材料分析的基本要求。可应用于合金分析、镀层检测、贵金属分析、考古分析、环境保护、ROHS/无卤指令检测、玩具指令检测标准等多个领域。

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 采用美国原装热电制冷高性能SDD探测器,分辨力高,探测范围宽,涵盖RoHS、卤素、镀层、合金(含贵金属)及各种常规材料分析的基本要求。

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? 配置国际更先进的DPP数字多道信号集成处理器,比普通模拟多道信号处理器性能更佳,尤其在高计数率时有更好的分辨力(如Hg和CI等),高达80MHz的数据传输速度使分析时间更短,整机测量重复性和长期稳定性更好。

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? 内置高清摄像系统,清晰观察样品,准确定位样品测试区域。

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? 配套的FP测量软件,集成多种谱图处理算法和基体校正算法,有效降低仪器测量中的各种干扰谱峰,使低含量和痕量元素的检测结果更加准确,更加接近真值水平。

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主要参数

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产品型号EDX600PLUS
激发源微焦斑射线源;  电压:更大管压50kv, 管流800μA;   靶材:W
探测器进口电制冷SDD探测器, 能量分辨率:149±5ev, 窗口面积:25mm2 (可选配Fast SDD)
信号处理数字多通道信号处理系统,更高计数率可达100KCPS以上
元素分析范围S (硫)- U (铀)
厚度检出限0.01μm
分析RSD < 5%
测量时间30-300s
电源大功率高数控高压电源
摄像头高分辨率样品摄像头
操作方式工控一体机
操作系统定制的工业级Windows操作系统
数据传输USB3.0
安全性具有开盖保护功能,激发源电源独立开关, 防止误操作
辐射防护三重X射线屏蔽防护,辐射防护优于国标《GBZ115-2002》
主机尺寸和重量250x320x80 mm(L x W x H)、50kg
样品腔尺寸610x320x100mm(L x W x H)
工作环境温度:-10℃-50℃; 湿度:RH10%~90%
配套设备打印机、稳压器
样品制备无需制备

应用领域

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? 合金分析领域? 镀层检测? 贵金属分析? RoHS/无卤指令检测
黄铜成分分析及牌号判定镀层厚度分析-镀层测厚考古分析玩具指令检测标准
不锈钢成分分析及牌号判定镀层成分分析-镀层含金量测试环境保护包装指令检测(94/62/EC)

镀液环保分析客户定制机型Cd+Pb+Hg+Cr6+<100

达克罗测试

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