X荧光镀层测厚仪又名膜厚仪,涂镀层测厚仪,金属镀层测厚仪,镀层厚度测量仪,X荧光镀层测厚仪,X射线荧光镀层测厚仪,镀金镀层测厚仪,镀银层测厚仪,铜镀银厚度测量仪,镀镍镀银镀锌测厚仪,天瑞仪器x射线测厚仪,国产镀层测厚仪,Thick800A镀层测厚仪,x-ray镀层测厚仪,x-ray涂镀层厚度分析仪。

X荧光镀层测厚仪是能谱分析方法,属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时,其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线,不同的元素有不同的特征X射线;探测器探测到这些特征X射线后,将其光信号转变为模拟电信号;经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理;计算机独有的特殊应用软件根据获取的谱峰信息,通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。

      它能检测出常见金属镀层厚度,无需样品预处理;分析时间短,仅为数十秒,即可分析出各金属镀层的厚度;分析测量动态范围宽,可从0.005μm到60μm。X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术,可以测定各种金属镀层的厚度,包括单层、双层、多层及合金镀层等,可以进行电镀液的成分浓度测定。

Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

江苏天瑞仪器股份有限公司是x射线测厚仪Thick800A的生产厂家,是一家以X射线荧光光谱仪的研发生产为主,兼营光谱,色谱,质谱三类分析仪的综合性检测仪器上市公司,股票代码300165!

 X荧光镀层测厚仪THick800A实体照

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高移动平台可定位测试点,重复定位小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域


塑料制品工业镀层、电子材料镀层(接插件、半导体、线路板、电容器等)、钢铁材料镀层(铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等)、有色金属材料镀层(铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等)、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。

1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的,利用Thick-900A型X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。

荧光厚度与已知厚度样品结果对比:

 

镀层标准厚度(μm)

0.12

0.45

1.35

2.55

4.12

5.23

7.65

镀层荧光厚度(μm)

0.11

0.48

1.37

2.47

4.06

5.35

7.58

2.铜上镀镍再镀金的双镀层厚度测量铁、铜等材料上先镀镍再镀金的厚度测量也是工业中常见的,见下表:

 

镍镀层标准厚度(μm)

0.15

0.85

1.30

2.15

4.56

8.13

9.55

镍镀层荧光厚度(μm)

0.13

0.88

1.33

2.20

4.60

8.25

9.48

金镀层标准厚度(μm)

0.23

0.45

0.75

1.15

1.22

1.53

1.65

金镀层荧光厚度(μm)

0.21

0.43

0.77

1.17

1.26

1.55

1.58

3.仪器长期稳定性评定

单镀层Ni/Cu稳定性测定:连续测定20次,计算其标准偏差和相对标准偏差,均能达到很好的效果。

 

测量

次数

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

Ni(um)

1.778

1.783

1.774

1.78

1.774

1.765

1.784

1.763

1.759

1.769

测量

次数

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

Ni(um)

1.751

1.768

1.78

1.763

1.792

1.768

1.792

1.762

1.752

1.754

平均

厚度

1.771

标准

偏差

0.01231

相对标

准偏差

0.00695





4.常见的Au/Ni样品测量谱图:


江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本46168万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。

 

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