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THICK800A镀层测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器,测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等(在有关国家和国际标准中称为覆层(coating))。 覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。



XRF镀层测厚仪性能优势:

快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量要求。

方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。

无损:测试前后,样品无任何形式的变化。

直观:实时谱图,可直观显示元素含量。

测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。

可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。

满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。

性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。

简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便,在镀层行业中可谓大展身手。

软件图片:

 

 

技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

部件(美国进口)

Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机  

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

天瑞仪器膜厚测试仪Thick800A图谱

厂家介绍

江苏天瑞仪器股份有限公司是生产ROHS检测仪(EDX1800B),镀层测厚仪(Thick800A)气相色谱质谱联用仪(GCMS,等离子发射光谱仪(ICP2060T),x射线测厚仪,ROHS检测设备,X射线镀层测厚仪,气相色谱仪,ROHS测试仪,液相色谱仪,ROHS2.0新增4项分析仪,手持式矿石分析仪,双酚A检测仪,X射线荧光光谱仪,汽油中硅含量检测仪, ROHS仪器,手持式合金分析仪(EXPLORER5000)等分析仪器,涉及的仪器设备主要有Thick8000Thick800A 、EDX1800B

 

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