ROHS检测仪与X荧光光谱仪两者有着紧密的联系和相似之处，事实上，X荧光光谱仪和RoHS检测仪，两者是包含和被包含的关系所存在的，也就是说X荧光光谱仪是比RoHS检测仪的范围要大的多的。RoHS检测仪是属于X荧光光谱仪的一个分类，这么理解就比较简单了。
X荧光光谱仪有两种基本类型：即波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。以X荧光的波粒二象性中波波长特征为原理的一类仪器，称为波长色散型，而以能量特征为原理的一类仪器，即称为能量色散型。
X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，可以 测定元素含量。近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。如图为X荧光光谱仪的原理图：
RoHS检测仪目前市场上常见的类型是X射线荧光分析仪 又分为能量色散型和波长色散型，能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单，现市场上比较常见，其技术原理： ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。 波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：Q=kE式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。 RoHS检测仪也就是X射线荧光光谱仪 其中经济实用的的也就是ED-XRF类仪器，也就是能量色散型荧光光谱仪器，今天给大家推荐页是这款原理的仪器。不需要制备样品，省去了很多中间繁琐的样品制备时间，检测时间在几十秒甚至几秒即可呈现较为准确的检测结果。如图既是其原理图： 
能量色散型RoHS检测仪（ED-XRF）类仪器特点：
精准： ppm级度，可靠的检测数据
快速：3秒内可对样品定性识别，60秒内可得出测试结果
直观：高清晰图形即时显示，检测结果直观明了
安全：加装防辐射装置，主动保护操作人员安全
经济：价格便宜，测试过程基本不需要任何耗材
1、无需对样品做前期处理，简单、方便、快捷地实现贵重金属的无损检测。
2、具有自主知识产权的探测器保护装置，能大限度保护探测器，延长其使用寿命，降低客户使用成本。
3、自动选择校准曲线功能，保证贵金属测试结果的准确可靠。
4、自主研发的形状补偿功能，能根据样品的形状大小，自动实现形状补偿。
5、采用高清晰摄像头对首饰进行定位。
6、高数字多道采集系统，解决峰道漂移带来误差。
7、独特的智能风冷实现仪器冷却的智能化。
8、集成工业计算机，采用一键式操作界面，操作灵活，使用方便，即学即会。
9、一键式打印功能，轻松实现测量打印。